科技论坛: 集成电路研发测试与量产测试的现状及挑战

发布时间:2025-12-16浏览次数:10

报告主题:集成电路研发测试与量产测试的现状及挑战

人:汪天阳

报告时间:20251217日(周1530

报告地点:教一510

组织单位:电子信息工程学院/集成电路学院

报告人简介:

高级工程师(CLD),研究生学历,目前任职于北京曾益慧创科技有限公司。具有丰富的半导体测试、SDR的系统开发经验,任职期间担任上海交通大学、哈尔滨理工大学等企业导师,承担校级专业课程教学。全国大学生集成电路创新创业大赛-评审专家。

报告简介:

本次讲座旨在通过介绍集成电路测试技术现状、挑战及发展趋势,让学生能够了解集成电路测试行业对所需的人才要求,为未来所需学习的集成电路测试技术课程提供产业背景及学习思路。

1、集成电路行业简介及未来趋势

2、集成电路研发测试与量产测试介绍

3、集成电路研发测试与量产测试面临的挑战

4、集成电路测试工程师应当具备的能力